Микроскопы
- USB-микроскопы
- Атомно силовые микроскопы
- Атомно-силовые микроскопы
- Безокулярные оптические микроскопы
- Бинокулярные стереомикроскопы
- Измерительные микроскопы
- Интерференционные микроскопы
- Комплектующие для микроскопов
- Конфокальные микроскопы
- Металлографические микроскопы
- Научно-исследовательские и лабораторные микроскопы
- Оптические микроскопы
- Опции электронных микроскопов
- Пробоподготовка
- Просвечивающая электронная микроскопия
- Просвечивающие электронные микроскопы
- Растровые электронные микроскопы
- Рентгеновские микроскопы
- Сканирующие акустические микроскопы
- Сканирующие туннельные микроскопы
- Термоэмиссионные микроскопы
- Флуоресцентные микроскопы
Автоматический без эталонный количественный анализ в ПО NORAN System 7 обеспечивает быструю идентификацию различных областей внутри материала. ЭДС: ..
По запросу
Автоматический без эталонный количественный анализ в ПО NORAN System 7 обеспечивает быструю идентификацию различных областей внутри материала. ЭДС: ..
По запросу
Растровые электронные микроскопы (РЭМ) используются для исследования микроструктуры поверхности, количественного элементного анализа в точке наблюдени..
По запросу
Растровые электронные микроскопы (РЭМ) используются для исследования микроструктуры поверхности, количественного элементного анализа в точке наблюдени..
По запросу
Продукт Описание ЕМ-30LE 1. Сканирующий электронный микроскоп с высоким разрешением: увеличение до x 150 000 ..
По запросу
Продукт Описание ЕМ-30LE 1. Сканирующий электронный микроскоп с высоким разрешением: увеличение до x 150 000 ..
По запросу
CX-200K — это стандартный, но мощный полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), разработанный для удовлетворения широкого спектра потребн..
По запросу
CX-200K — это стандартный, но мощный полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), разработанный для удовлетворения широкого спектра потребн..
По запросу
CX-300 — новейший полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), позволяющий анализировать еще больший спектр образцов, за счет добавления во..
По запросу
CX-300 — новейший полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), позволяющий анализировать еще больший спектр образцов, за счет добавления во..
По запросу
Растровый электронный микроскоп EM-40 представляет новую модель в линейке настольных микроскопов серии EM. Оснащен технологией сверхбыстрой обработки ..
По запросу
Растровый электронный микроскоп EM-40 представляет новую модель в линейке настольных микроскопов серии EM. Оснащен технологией сверхбыстрой обработки ..
По запросу
Многолучевой растровый электронный микроскоп, совмещенный с ионной пушкой для формирования сфокусированного ионного пучка...
По запросу
Многолучевой растровый электронный микроскоп, совмещенный с ионной пушкой для формирования сфокусированного ионного пучка...
По запросу
Безокулярный измерительный микроскоп для прецизионных бесконтактных измерений и визуального контроля. Kestrel Elite — надежный, высокоточный измерител..
По запросу
Безокулярный измерительный микроскоп для прецизионных бесконтактных измерений и визуального контроля. Kestrel Elite — надежный, высокоточный измерител..
По запросу
Видеосистема измерений для прецизионных метрологических задач Видеосистема измерений для прецизионных метрологических задач 2-осевые бесконтактны..
По запросу
Видеосистема измерений для прецизионных метрологических задач Видеосистема измерений для прецизионных метрологических задач 2-осевые бесконтактны..
По запросу
Экономичная, высокоточная 2-х осевая измерительная комбинированная система видео и оптических измерений, специально разработана для измерения мелких и..
По запросу
Экономичная, высокоточная 2-х осевая измерительная комбинированная система видео и оптических измерений, специально разработана для измерения мелких и..
По запросу
Мощное средство измерений в пределах поля зрения (FOV) с использованием камеры высокого разрешения. Система Xpress обеспечивает мгновенные высокоточны..
По запросу
Мощное средство измерений в пределах поля зрения (FOV) с использованием камеры высокого разрешения. Система Xpress обеспечивает мгновенные высокоточны..
По запросу
Системы семейства Hawk позволяют достичь повторяемости и высокой точности результатов бесконтактных двух- и трехосевых измерений сложных деталей из лю..
По запросу
Системы семейства Hawk позволяют достичь повторяемости и высокой точности результатов бесконтактных двух- и трехосевых измерений сложных деталей из лю..
По запросу