Растровые электронные микроскопы

12-дюймовый CD-SEMТочные инструменты для оценки критических размеров, передовая электронная оптика, обработка изображений и системы переноса пластин обеспечивают высокое разрешение, высокую пропускную способность и высокую повторяемость прецизионных измерений.Улучшенная автоматическая калибровка обе..

В сканирующем электронном микроскопе SemOn F-300 используется технология полевой эмиссии Шоттки Передовая полнополосная технология ускорения, интегрированная в электронно-оптическую колонну обеспечивает превосходные характеристики изображения при низких ускоряющих напряжениях, а также позволяет п..

LumiSEM F200-Raman с интегрированной Рамановской спектроскопиейВысокая чувствительность и пространственное разрешениеРабочий столик с широким диапазоном и большим полем зрения.Глубокая интеграция СЭМ и Рамановской системы с единым интерфейсом управления.Преимущества примененияRaman устраняет огранич..

NANO SEM 500 — это многофункциональный сканирующий электронный  микроскоп высокого разрешения с полевой эмиссией.Передовая конструкция колонны микроскопа с технологией высоковольтного туннеля (SuperTunnel и конструкция объектива с низкими аберрациями и отсутствием магнитной утечки позволяют пол..

SEM-320 — это универсальный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом, отличающийся высокой производительностью и широким спектром применений...

WIN SEM A7000 применяется для получения изображений поверхности образца с высоким пространственным разрешением. Анализ химического состава также возможен при помощи опционального спектрометра характеристического рентгеновского излучения (EDS).Разрешение1,5 нм@30 кВ (SE)3 нм@30 кВ (BSE)Увеличение8x~8..

Полноразмерная напольная модель сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), которую как новички, так и опытные пользователи найдут подходящей для многих типов сложных исследований и контроля качества В стандартную конфигурацию CX-200plus входят детекторы для получения изображений SE и BSE, а такж..

Настольная установка магнетронного напыления с тремя магнетронами DST3 используется для напыления металлов, диэлектриков, полупроводников на подложки диаметром до 200 мм Простая конструкция и интуитивно понятный интерфейс позволяют оператору легко и быстро проводить обработку образцов. Доступно 2 ..

Самая популярная модель настольного РЭМ на основе вольфрамовой нити. Благодаря технологии DSP (цифровой обработки сигнала) он обеспечивает кристально чистые изображения с низким уровнем шума даже при большом увеличении Режим панорамы обеспечивает возможность сканирования широкой области, а режим н..

4-канальный детектор BSE позволяет получить изображение в композиционном контрасте, зависящем от химического состава образца. Детектор монтируется опционально Съемный детектор ОЭ 4-канальный детектор BSE позволяет получить изображение в композиционном контрасте, зависящем от химического состава об..

Автоматический без эталонный количественный анализ в ПО NORAN System 7 обеспечивает быструю идентификацию различных областей внутри материала. ЭДС: Thermo Точная и быстрая обработка данных Высокое разрешение: 133 эВ с Mn, B(5) ~ U(92) Термоэлектрическое охлаждение (без жидкого азота, воды и ..

Растровые электронные микроскопы (РЭМ) используются для исследования микроструктуры поверхности, количественного элементного анализа в точке наблюдения как природных объектов, так и искусственных материалов. ЭДС OXFORD Аналитическое ПО Tru-Q использует множество алгоритмов, чем обеспечивает т..

Продукт Описание ЕМ-30LE 1. Сканирующий электронный микроскоп с высоким разрешением: увеличение до x 150 000 2. Длительный срок службы: Макс. 1500 часов с использованием CeB6 3. Разрешение выше более чем в 7 раз по сравнению с SEM с во..

CX-200K — это стандартный, но мощный полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), разработанный для удовлетворения широкого спектра потребностей в исследованиях и контроле качества. Благодаря совершенно новому, интуитивно понятному графическому интерфейсу NanoStation5 CX-200K работа упрощ..

CX-300 — новейший полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), позволяющий анализировать еще больший спектр образцов, за счет добавления воздухозащитного модуля, предотвращающего возможные повреждения под воздействием атмосферы и возможности анализа больших площадей. Ко всему прочему..

Растровый электронный микроскоп EM-40 представляет новую модель в линейке настольных микроскопов серии EM. Оснащен технологией сверхбыстрой обработки сигнала 5-го поколения и обеспечивает высококачественное изображение с частотой до 13 кадров в секунду. Четыре режима обработки изображений (Fast, Slo..

IP-10K представляет собой усовершенствованную установку ионно-лучевого полирования, которая предлагает широкий спектр возможностей благодаря множеству опций. Среди них выделяются фрезерование плоскостей, охлаждаемый предметный столик и воздухозащитный модуль Ионно-лучевое полирование После полиров..