Микроскопы
- USB-микроскопы
- Атомно силовые микроскопы
- Атомно-силовые микроскопы
- Безокулярные оптические микроскопы
- Бинокулярные стереомикроскопы
- Измерительные микроскопы
- Интерференционные микроскопы
- Комплектующие для микроскопов
- Конфокальные микроскопы
- Металлографические микроскопы
- Научно-исследовательские и лабораторные микроскопы
- Оптические микроскопы
- Опции электронных микроскопов
- Пробоподготовка
- Просвечивающая электронная микроскопия
- Просвечивающие электронные микроскопы
- Растровые электронные микроскопы
- Рентгеновские микроскопы
- Сканирующие акустические микроскопы
- Сканирующие туннельные микроскопы
- Термоэмиссионные микроскопы
- Флуоресцентные микроскопы
Металлографический микроскоп MAGUS Metal 650 BD предназначен для работы в светлом и темном поле в отраженном свете, а также в поляризованном свете. Он применяется для инспектирования поверхностей интегральных схем, печатных плат, изделий прецизионного формования, фотошаблонов и других широких и прот..
По запросу
MAGUS Metal V700 – инвертированный металлографический микроскоп для изучения металлических микроструктур в светлом поле и в поляризованном свете. Подходит для исследования полированных поверхностей образцов массой до 2 кг, причем любых форм и размеров – только исследуемая поверхность должна быть отп..
По запросу
Благодаря инвертированной конструкции на металлографическом микроскопе MAGUS Metal V700 BD можно исследовать объекты большого размера и массой до 2 кг. Исследуемая сторона должна быть плоской и обработанной для наблюдений, геометрия остальной части объекта не имеет значения. Микроскоп применяется на..
По запросу
Микроскоп предназначен для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специа..
По запросу
Микроскоп предназначен для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 30 кг. Одна грань образца подвергается специ..
По запросу
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается спе..
По запросу
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается спе..
По запросу
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается спе..
По запросу
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается спе..
По запросу
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации.В..
По запросу
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой..
По запросу
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации.В..
По запросу
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводнико..
По запросу
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводнико..
По запросу
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводнико..
По запросу
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводнико..
По запросу
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых ..
По запросу
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых ..
По запросу
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых ..
По запросу
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых ..
По запросу
MAGUS Pol 800 – поляризационный микроскоп для исследования анизотропных объектов. Наблюдения проводятся в проходящем свете двумя методами: поляризации и светлого поля. Микроскоп оснащен объективами, свободными от напряжений, поэтому не вносит паразитных отражений в изображение. Передаваемая оптикой ..
По запросу
MAGUS Pol 850 – это профессиональный микроскоп для работы по методу поляризации в проходящем и отраженном свете. Также он поддерживает работу в светлом поле. Микроскоп предназначен для исследования геологических, биологических полимерных анизотропных объектов и непрозрачных аншлифов, толщина которых..
По запросу
Микроскоп для научных исследований и промышленного контроля. Предназначен для исследования объектов в поляризованном и обычном свете. Установка опциональных компонентов позволит использовать методы темного поля, фазового контраста и дифференциально-интерференционного контраста в проходящем свете, а ..
По запросу
Микроскоп предназначен для исследования анизотропных геологических, биологических и полимерных объектов в поляризованном и обычном проходящем свете. Для формирования изображения поляризационный микроскоп использует оптическое свойство двойного лучепреломления анизотропных объектов. Плоско-поляризова..
По запросу