Гарантия от производителя
Настольный растровый микроскоп Coxem EM-30N
- Производитель: Остек-АртТул
- Код Товара: 90951-01
По запросу
-
+
Самая популярная модель настольного РЭМ на основе вольфрамовой нити. Благодаря технологии DSP (цифровой обработки сигнала) он обеспечивает кристально чистые изображения с низким уровнем шума даже при большом увеличении
Режим панорамы обеспечивает возможность сканирования широкой области, а режим низкого вакуума (LV) дает возможность получать первозданные высококачественные изображения непроводящих образцов без покрытия. EM-30N также является первым в мире настольным СЭМ, который легко интегрируется с компактным EBSD, что еще больше повышает его универсальность и производительность
Режимы:
Интерфейс NanoStation предоставляет множество средств навигации одним кликом в любом из трех различных увеличенных режимов
Микрообзор с использованием карты CCD Navi Cam или держателя проб для перемещения от образца к образцу или по большим участкам
Микрообзор с использованием изображения MiniMap с малым увеличением и индикатором поля зрения (FOV) для перемещения в пределах нанообзора образца при желаемом FOV позволяет производить измерения, щелкая по изображению или используя элементы управления Image Shift для идеального центрирования и выравнивания интересующих элементов образца
STEM-детектор
Компания Coxem предлагает настоящий выдвижной STEM-детектор, позволяющий EM-30N проводить ТЕМ-анализ образцов на стандартных решетках ТЕМ с использованием более высокого кВ, чем у других моделей настольных СЭМ. Возможна визуализация в светлом и темном поле, а также использование EDS на 4 образцах, установленных одновременно
Охлаждаемый столик
Проведение РЭМ-исследований влажных образцов требует различных предварительных обработок, таких как сушка в критической точке и фиксация. Чтобы сократить такие сложные процедуры подготовки образцов, система COXEM Coolstage понижает температуру образца для замораживания внутренней влаги, предотвращая разрушительное воздействие вакуума на хрупкую микроструктуру
Режим низкого вакуума
С помощью режима низкого вакуума (LV) можно легко получать изображения непроводящих образцов или изоляционных материалов без специальной предварительной подготовки
Режим двойного отображения/совмещения сигналов
На электронном микроскопе можно получать изображения путем сбора различных сигналов, передаваемых с образцов посредством электронного луча. Детектор SE может собирать данные об особенностях структуры путем улавливания вторичных электронов (SE), а c помощью регистрируемых детектором BSE обратно-рассеянных электронов (BSE) можно получать данные о химическом составе и стереоскопические изображения образцов. Также возможно совмещение сигналов, в результате которого на одном экране выводится изображение форм и структур образцов
Программное обеспечение:
Режим панорамы обеспечивает возможность сканирования широкой области, а режим низкого вакуума (LV) дает возможность получать первозданные высококачественные изображения непроводящих образцов без покрытия. EM-30N также является первым в мире настольным СЭМ, который легко интегрируется с компактным EBSD, что еще больше повышает его универсальность и производительность
Области применения:
Преимущество EM-30N заключается в том, что он позволяет наблюдать изображения с большим увеличением. С его помощью можно эффективно получать изображения высокого разрешения, регулируя напряжение, рабочее расстояние и размер электронного лучаРежимы:
- Режим сдвоенного отображения позволяет получать изображения SE и BSE в одном виде
- Режим комбинирования сигналов
- Сочетание SE- и BSE-изображений обеспечивает доступ к формам и химическому составу образцов в режиме режиме реального времени
Интерфейс NanoStation предоставляет множество средств навигации одним кликом в любом из трех различных увеличенных режимов
Микрообзор с использованием карты CCD Navi Cam или держателя проб для перемещения от образца к образцу или по большим участкам
Микрообзор с использованием изображения MiniMap с малым увеличением и индикатором поля зрения (FOV) для перемещения в пределах нанообзора образца при желаемом FOV позволяет производить измерения, щелкая по изображению или используя элементы управления Image Shift для идеального центрирования и выравнивания интересующих элементов образца
Анализ частиц
STEM-детектор
Компания Coxem предлагает настоящий выдвижной STEM-детектор, позволяющий EM-30N проводить ТЕМ-анализ образцов на стандартных решетках ТЕМ с использованием более высокого кВ, чем у других моделей настольных СЭМ. Возможна визуализация в светлом и темном поле, а также использование EDS на 4 образцах, установленных одновременно
Охлаждаемый столик
Проведение РЭМ-исследований влажных образцов требует различных предварительных обработок, таких как сушка в критической точке и фиксация. Чтобы сократить такие сложные процедуры подготовки образцов, система COXEM Coolstage понижает температуру образца для замораживания внутренней влаги, предотвращая разрушительное воздействие вакуума на хрупкую микроструктуру
Режим низкого вакуума
С помощью режима низкого вакуума (LV) можно легко получать изображения непроводящих образцов или изоляционных материалов без специальной предварительной подготовки
Режим двойного отображения/совмещения сигналов
На электронном микроскопе можно получать изображения путем сбора различных сигналов, передаваемых с образцов посредством электронного луча. Детектор SE может собирать данные об особенностях структуры путем улавливания вторичных электронов (SE), а c помощью регистрируемых детектором BSE обратно-рассеянных электронов (BSE) можно получать данные о химическом составе и стереоскопические изображения образцов. Также возможно совмещение сигналов, в результате которого на одном экране выводится изображение форм и структур образцов
Программное обеспечение:
| Модель | EM-30N | ||
| Электронная пушка | Вольфрамовая нить (W) | ||
| Разрешение | < 5нм | ||
| Электронно-оптическое увеличение | 15x - 150,000x | ||
| Цифровое увеличение | 15x - 150,000x | ||
| Ускоряющее напряжение | 1 ~ 30kV | ||
| Предметный столик | X : 35mm, Y : 35mm Tilt : 0 ~ 45° | ||
| Детектор | SE, BSE* | ||
| Режим вакуумирования | HV, LV* | ||
| Вакуумная система | Турбонасос (80 л) + роторный насос (100 л) | ||
| Размеры | 400(Ш) × 630(Д) × 600(В) mm | ||
| Вес | 85 kg | ||
| Функциональные возможности | Панорама v1 | ||
| Автофокусировка | |||
| Автоматическая регулировка яркости и контрастности | |||
| Автоматический запуск | |||
| Вывод изображений от трех источников и их сохранение | |||
| Микширование сигналов | |||
| Профиль линии | |||
| Фильтр изображений | |||
| Инструмент для создания аннотаций | |||
| ChamberCam | |||
| Формат вывода данных | JPEG, TIFF, BMP | ||
| Опции | BSE, EDS, EBSD, STEM | ||
| NaviCAM, Охлаждаемый предметный столик | |||
| LV (20Pa), VP (10 / 20 / 30Pa) | |||
| Панорама v2, NanofiberScanner | |||
| Спиральный насос | |||
Большой выбор оборудования
Быстрая качественная доставка
Индивидуальный подход
