Атомно-силовые микроскопы

Усовершенствованный атомно-силовой микроскоп, который выводит на новый уровень производительности и функциональности. Сканер Варианты диапазона сканирования XY: 10мкм / 100мкm с разрешением 24 Бит Варианты диапазона сканирования Z: 5мкм / 15мкм с разрешением 24 Бит Разрешение 0.01 нм ..

Модульная концепция и универсальное базовое основание линейки приборов NANOS позволяют комбинировать измерения методом атомно-силовой микроскопии с оптическими измерительными методиками, электро-химическими экспериментами и множеством других исследовательских техник Преимущества Более 40 методов..

Модульный прибор, который позволяет проводить одновременное исследование образца методами СЗМ и микроскопии / спектроскопии комбинационного рассеяния света и фотолюминесценции Преимущества Более 40 методов сканирующей зондовой микроскопии, в том числе спектроскопии и литографии, в базовой компле..