Атомно силовые микроскопы

Атомно-силовой микроскоп AFM4500 (АСМ, англ. AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с атомарным разрешением.Головка лазерного детектирования и столик сканирования образца интегрированы, структура стабильна..