Комбинированная система СЗМ + Раман NANOS Spectra

Преимущества

• Более 40 методов сканирующей зондовой микроскопии, в том числе спектроскопии и литографии, в базовой комплектации. Возможна работа в контактном и полу-контактном режиме, в электрических и магнитных модах, в режимах СТМ и СБОМ;
• Все возможные оптические конфигурации: засветка и сбор сверху, снизу, сбоку; возможность реализации измерений методами сканирующей ближнепольной микроскопии. Возможность детектирования как спектров комбинационного рассеяния, так и фотолюминесценции;
• Уникальная методика Hybrid для быстрого картирования механических свойств поверхности одновременно с получением АСМ топографии;
• Лучшие в мире кантилеверные зондовые датчики для получения усиленного комбинационного рассеяния, гарантированная сдача TERS при установке соответствующей конфигурации в лабораторию клиента. Возможно получение усиленного комбинационного рассеяния кантилеверными зондами с максимальным откликом при минимальном износе активного покрытия зонда;
• Наши специалисты первыми в мире вышли на рынок с комбинированным АСМ + Раман прибором. Большой опыт разработки СЗМ и совмещения АСМ с оптическими/ спектральными методиками измерений;
• 20 лет опыта онлайн-поддержки, обучения пользователей и диагностики неисправностей с использованием методов удалённого доступа к прибору клиента.

• Поле сканирования СЗМ до 100х100х10 мкм, емкостные датчики контроля положения зонда по XYZ;
• Уровень шума Z датчика ≤ 0.04 нм;
• Нелинейность сканера по XY ≤ 0.1 %;
• Разрешение оптической системы: до 200 нм по XY и до 400 нм по Z при работе на видимом диапазоне длин волн;
• Фокусное расстояние спектрометра – 620 мм, спектральный диапазон 400 – 1000 нм;
• До 5 встроенных инициирующих лазеров.