Зондовая нанолаборатория NANOS

Преимущества

• Более 40 методов сканирующей зондовой микроскопии, в том числе спектроскопии и литографии в базовой комплектации. Возможна работа в контактном и полу-контактном режиме, в электрических и магнитных модах, в режимах СТМ;
• Возможность измерений с нагревом образца, во внешнем горизонтальном или вертикальном магнитном поле, в электрохимической ячейке, в вакууме, в жидкости;
• Уникальная методика Hybrid для быстрого картирования механических свойств поверхности одновременно с получением АСМ топографии.
• Лучшие в мире кантилеверные зондовые датчики для получения усиленного комбинационного рассеяния, гарантированная сдача TERS при установке соответствующей конфигурации в лабораторию клиента. Возможно получение усиленного комбинационного рассеяния кантилеверными зондами с максимальным откликом при минимальном износе активного покрытия зонда;
• Наши специалисты первыми в мире вышли на рынок с комбинированным АСМ + Раман прибором. Большой опыт разработки СЗМ и совмещения АСМ с оптическими/ спектральными методиками измерений;
• 20 лет опыта онлайн-поддержки, обучения пользователей и диагностики неисправностей с использованием методов удалённого доступа к прибору клиента.

• Поле сканирования СЗМ до 100х100х10 мкм, емкостные датчики контроля положения зонда по XYZ;
• Уровень шума Z датчика ≤ 0.04 нм;
• Нелинейность сканера по XY ≤ 0.1 %;
• Оптическое разрешение: 3 мкм стандартно, до 0.4 мкм опционально;
• Опционально – измерения во внешнем магнитном поле до 2500 Гаусс горизонтально и до 1100 Гаусс вертикально;
• Опционально – работа в вакууме до 10-2 Торр