Гарантия от производителя
Cканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SemOn F-300
- Производитель: Остек-АртТул
- Код Товара: 90943-01
По запросу
-
+
В сканирующем электронном микроскопе SemOn F-300 используется технология полевой эмиссии Шоттки
Передовая полнополосная технология ускорения, интегрированная в электронно-оптическую колонну обеспечивает превосходные характеристики изображения при низких ускоряющих напряжениях, а также позволяет получать изображения высокого разрешения различных материалов
Многочисленные детекторы собирают разнообразные электронные сигналы, излучаемые образцом, для получения изображения, в максимальной степени раскрывая микро- и наноскопическую морфологию и структурную информацию образца
Комплексная система сбора сигналов
Удобный и доступный пользовательский интерфейс
Многофункциональная панель управления
Мощная и универсальная аналитическая платформа
Передовая полнополосная технология ускорения, интегрированная в электронно-оптическую колонну обеспечивает превосходные характеристики изображения при низких ускоряющих напряжениях, а также позволяет получать изображения высокого разрешения различных материалов
Многочисленные детекторы собирают разнообразные электронные сигналы, излучаемые образцом, для получения изображения, в максимальной степени раскрывая микро- и наноскопическую морфологию и структурную информацию образца
Преимущества
Превосходная визуализация с высоким разрешением- Полевой эмиссионный электронный катод Шоттки обеспечивает высокую стабильность пучка
- Технология ускорения электронов на протяжении всей колонны обеспечивает высокую производительность визуализации электронного пучка даже при низких ускоряющих напряжениях
- Конструкция объектива не допускает утечки магнитных полей из объектива, тем самым обеспечивая высокое качество визуализации магнитных образцов
Комплексная система сбора сигналов
- Одновременный сбор сигналов включает два типа: вторичные электроны и обратно рассеянные электроны
- Одновременное представление морфологического и композиционного контраста раскрывает микроскопическую морфологию и информацию о составе образца в максимальном объеме
Удобный и доступный пользовательский интерфейс
- Быстрая и точная навигация по образцам, ясный и понятный пользовательский интерфейс
- Разнообразные функции автоматизации обеспечивают высокую пропускную способность процесса визуализации
- Оснащен множеством систем безопасной блокировки, надежен и эффективен
Многофункциональная панель управления
- Пульт стандартной конфигурации, многофункциональный, с высокой степенью интеграции
- Эргономичный дизайн, соответствующий предпочтениям пользователя
- Предустановленные клавиши быстрого доступа для условий визуализации для повышения эффективности работы
Мощная и универсальная аналитическая платформа
- Модульная конструкция с расширяемой системной архитектурой
- Возможны индивидуальные решения в соответствии с требованиями конкретных задач
- Множество портов, совместимых с различными аксессуарами сторонних производителей, такими как EDS, EBSD, WDS, CL и т.д., что позволяет проводить как визуализацию, так и анализ
Применение
| | |||||
| Полимерные микросферы | Ткани коры головного мозга мыши | Сланец (горная порода) | |||
| | |||||
| Решетка фоторезиста на подложке | Пыльца космеи дваждыперистой | Пиксели дисплея | |||
| | |||||
| Биопсия почечной ткани | Сенсиллы усиков жука-оленя | Поверхность листьев камфоры | |||
|
| |||||
| Частицы золота | Полированная металлическая поверхность | Углеродные наночастицы | |||
| | |||||
| Нанопластины диоксида титана | Материал катода литий-ионного аккумулятора | Электрод из оксида кремния | |||
| | |||||
| Известковые частицы на поверхности бумаги | Пирамидальная структура фотоэлектрических кремниевых пластин | Графен с пористой слоистой структурой | |||
| Разрешение |
| |||
| Ускоряющее напряжение | 0,02~30 кВ | |||
| Увеличение | 1~2000000x | |||
| Катод | Шоттки (полевая эмиссия) | |||
| Тип объектива | Композитный объектив, объединяющий электростатическую и магнитную линзы | |||
| Ток пучка | 1 пА~20 нА (100 нА опционально) | |||
| Изображение | 256*256~16к*16к | |||
Детектор и опции | ||||
| Стандартная конфигурация | Внутрилинзовый детектор вторичных электронов, детектор вторичных электронов в трубке | |||
| Опционально | Детектор обратно рассеянных электронов, сканирующий просвечивающий электронный детектор STEM, оборудование для плазменной очистки, EDS, EBSD, WDS | |||
Камера для образцов | ||||
| Камера | Внутренний диаметр 340 мм, высота 260 мм, множество интерфейсов, позволяющих добавлять EBSD, EDS и другие детекторы | |||
| Предметный столик | Моторизированный пятиосевой предметный столик, максимальный вес образца 2,5 кг, X, Y=125 мм, Z=50 мм, R=360° непрерывно, T=-5~70° | |||
| Система визуализации | Цифровая камера, вид сверху, вид сбоку | |||
Программное обеспечение и обработка изображений | ||||
| Язык | Русский/Английский | |||
| Операционная система | Windows | |||
| Автоматизированные функции | Автоматическое выравнивание источника электронов, автоматическое выравнивание диафрагмы, автоматическая фокусировка/стигматизация, автоматическая яркость/контрастность и т.д. | |||
| Другие особенности | Разделенный экран, аннотации, изменение направления сканирования, сшивка , компенсация наклона, сшивание изображений большой площади и т. д. | |||
Большой выбор оборудования
Быстрая качественная доставка
Индивидуальный подход