Лазерный анализатор элементного состава LEA‑S500

Лазерный анализатор элементного состава LEA‑S500 производства СОЛ Инструментс позволяет определять химические элементы от H до U с диапазоном измерения от 0.01 ppm до 100% за считанные минуты
Система LEA-S500 — это уникальный инструмент, объединяющий инновационные технологии в области лазерной, спектральной, измерительной и цифровой техники и интуитивно понятное программное обеспечение

Является идеальным прибором для исследований, разработки новых материалов и технологий их обработки, а также контроля качества на всех стадиях производственного процесса. Уникальные возможности анализатора позволяют измерять концентрации химических элементов в стеклах, металлах и сплавах, определять химический состав включений, измерять распределение концентраций элементов по глубине, в пленках и покрытиях, а также выполнять анализ химических загрязнений в строительных материалах

Области применения

Включение в трубке медицинского стекла	Включение в трубке медицинского стекла (на мониторе LEA-S500, х100)	Спектр дефекта и чистого стекла
Карта концентрации химического элемента на поверхности образца	Анализ зеркальной поверхности, площадь 2х2 мм с шагом 100 мкм, 400 точек

Преимущества

• Минимальная пробоподготовка
• Многоэлементный экспресс анализ химического состава одним измерением
• Высокая чувствительность и прецизионность измерений в широком диапазоне концентраций
• Агрегатное состояние проб не имеет значения; анализ проб в заданных точках (областях) поверхности с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения
• Проведение послойного анализа покрытий, пленок, налетов и коррозионных повреждений, а также изучение состава включений, дефектов и пороков материалов
• Определение распределения химических элементов в образце с высоким разрешением (шаг анализа от 30 мкм), построение детализированных карт распределения элементов на поверхности и в глубине исследуемого материала
• Простота пробоподготовки: использование особо чистых реактивов не требуется, как и дорогостоящих расходных материалов или инертных газов для выполнения большинства аналитических задач
• Очистка поверхности образцов от загрязнений осуществляется предварительными лазерными импульсами, что исключает необходимость сложных дополнительных процедур
• Устройство универсально и не нуждается в перенастройке или модернизации для решения комплексных и разнообразных задач анализа
• Подходит для исследования как токопроводящих, так и не токопроводящих материалов, а также анализа объектов сложной формы (проволока любого диаметра, цилиндрические детали, шарики) без необходимости их дополнительной обработки; в комплект поставляются специальные адаптеры
• Устройство обеспечивает комфорт и полную безопасность в работе, как для оператора, так и при проведении технического обслуживания
• Полная защита персонала от воздействия вредных факторов гарантирует соответствие всем требованиям безопасности