Стационарный РФА анализатор толщины и химического состава

Современная технология рентгенофлуоресцентного анализа для точного контроля качества покрытий.

Обеспечение однородности покрытия

Режущий инструмент	Корпуса, высокоточные механические детали	Выводные рамки
Декоративные покрытия	Метизы	Фитинги, соединители, механические пары
Выводы, электрокомпоненты	Печатные платы	Крупногабаритные детали
Полупроводники, устройства памяти

Анализаторы Bowman широко применяются в различных отраслях, в том числе:

Печатные платы Au/ENi/CuPCB (ENIG) Химическое осаждение Ag или Sn/CuPCB	Выводы и контакты Au/Pd/Ni/Cu Alloys Au/Ni/NiFe	Метизы ZnFe/Fe ZnNi/Fe
Режущий инструмент TiCN/WCo TiAlN/WC	Трубопроводная арматура и трубы Ni/Cu Cr/Ni/Cu/Zn	Телекоммуникация и хранение данных NiP/Al
Ювелирная промышленность 10, 14, 18 карат	Химический состав Сортировка сплавов RoHs	Анализ растворов Гальванические ванны
Автомобильная промышленность Cr/Ni/Cu/ABS Zn/Fe	И МНОГОЕ ДРУГОЕ

Непревзойденный диапазон измерения толщины

Прецизионный анализ в диапазоне от Алюминия до Урана (Al 13 до U 92)

Умная инженерия и новейший дизайн в области рентгенофлуоресцентных анализаторов

Замкнутая геометрия — увеличивает точность и эффективность анализа — образец в 3 раза ближе к детектору, чем у других производителей для непревзойденной точности и эффективности анализа



SDD Детектор высокого разрешения

Четкие пики элементов, устраняющие необходимость использования вторичных фильтров.
Минимальный дрейф положения пика для высокой стабильности с течением времени.
Калибровка спектра– реже

Анализ тонких пленок Ag, Sn по L линии

Более высокий уровень чувствительности и Эффективность для приложений Ag и Sn, чем анализ по К линии

Различные варианты измерительной камеры

Стандартный фиксированный столик	Расширенный программируемый XY Base	Моторизованная / программируемый XY Base	Максимальное перемещение XY Base

Дружественный интерфейс

• Предназначен для максимальной гибкости и Минимизации ошибок пользователя
• Программное обеспечение Xralizer на русском языке
• Интуитивно понятный графический интерфейс, управляемый значками
• Мощный качественный анализ
• Настраиваемые сочетания клавиш для быстрого проведения анализа
• Гибкий экспорт и вывод данных
• Мощный генератор отчетов

Пользовательский отчет со статистикой и автоматическая вставка изображения образца в отчет	Простой вывод данных	Приложение для создания измерительных программ

Эргономичная конструкция

Кнопки управления на передней панели,небольшой вес, компактный размер, подключение с ПК– один USB кабель

Дизайн

• Удобен в обслуживании
• Компактная и модульная конструкция всех основных компонентов упрощает обслуживание
• Максимальное время безотказной работы.

Трубка
HVPS
Коллиматор
Фильтры
Видео камера
Защита Z перемещений
Пульт управления
Детектор

Передовая технология измерения тонких пленок

> μ-точечная поли капиллярная оптика*

Новейший РФ анализатор с SDD детектором высокого разрешения для макси-мальной точности и минимальной погрешности измерения за короткий период времени

• Поли капиллярная оптика позволяет фокусиро-вать рентгеновский луч в пятно, размером 15 мкм
• Интенсивность в 1000 раз больше, чем в класси-ческом оптике с коллиматорами
• Исследование покрытий ENIG, ENEPIG, химиче-ски осажденного никеля, в том числе для кон-троля содержания P в покрытии

	Au, мкм	Pd, мкм	Ni, мкм	NiP, мкм	%P
Толщина	0,0427	0,08	3,72	10,2015	10,17
Станд. отклонение	0,00045	0,0009	0,00985	0,1089	0,29
Размах	0,0015	0,003	0,0395	0,3863	0,99
% Sr	1,053	1,121	0,265	1,067	2,85

* Преимущество μ-оптики Bowman


Построение 3D модели покрытия

Варианты комплектаций и технические характеристики

G серия — анализ золота и драгоценных металлов в ювелирной промышленности
B серия — базовая модель; все металлические покрытия
P серия — электронные компоненты, полупроводники, металлические покрытий, золото и драгоценные металлы
О серия — полупроводники и электроника
М серия — полупроводники и электроника, микро точечный анализ
L серия — детали большого размера, все области применения

	G	B	P	O	M	L
Диапазон элементов	Al-U	Al-U	Al-U	Al-U	Al-U	Al-U
Анализ слоев и элементов Кол-во слоев/ кол-во элементов в каждом слое Кол-во элементов	5/10 25	5/10 25	5/10 25	5/10 25	5/10 25	5/10 25
Трубка Микрофокусная /анод Направление измерения	W Снизу вверх	W Снизу вверх	W/Mo/Rh Сверху вниз	Mo/Rh Сверху вниз	Mo/Rh Сверху вниз	W/Mo/Rh Сверху вниз
Детектор Si PIN SDD	Включен Опция	Включен Опция	Включен Опция	— Включен	— Включен	Включен Опция
Размер луча Один коллиматор Набор коллиматоров Капиллярная оптика FWHM		Включен Опция —	— Включен —	— — 80 мкм	— — 15мкм	— Включен Опция
Фокальное расстояние Лазерная фокусировка Фиксированное Мульти-фокус (6-64 мм)	Авто Включен —	Авто Включен Опция	Авто — Включен	Авто Включен —	Авто Включен —	Авто — Включен
Видео 20х 50х 250х	Включен — —	Включен Опция —	Включен Опция —	— Включен Опция	— — Включен	Включен Опция Опция
Столик и размеры камеры Z контроль Z перемещение, мм Столик Стандарт XY Увеличенный XY Точность Размеры камеры, мм	Ручной — — — — — 127х380х304	Авто 140 Фикс. — — — 140х304х330	Авто 140 Программ. 127х152 254х254 0,01 140х304х330	Авто 140 Программ. 127х152 254х254 0,01 140х304х330	Авто 140 Программ. 165 — 0,01 140х304х330	Авто 254 Программ. 254х254 — 0,01 280х558х610
Вес, кг	25	34	52-70	52-70	70	110