Микро-РФА спектрометр (XRF) ATLAS X

Микро-РФА спектрометр (μXRF) ATLAS™ X от компании IXRF Systems имеет самый большой размер камеры и площадь SDD-детектирования (150 мм2), а также наименьший размер пятна (5 мкм) среди выпускаемых приборов.

Кроме того, ATLAS™ X поставляется с комплексным пакетом программного обеспечения, который включает многоточечный анализ, автоматизированные действия без оператора, глубокий анализ элементов/изображения, не имеющие аналогов функции картирования и протоколирования, и многое другое.

В зависимости от модели изделие работает с воздухом или вакуумом, а также с продувкой гелием в случае анализа жидкостей и легких элементов.

Характеристики:

• Размер пятна до 5 микрон с противоореольной оптикой
• Активная область SDD-детектора до 150 мм2
• Большой объем камеры
• Трубка 50 кВ/50 Ватт
• Автоматизация и картирование с несколькими точками/областями
• Воздух, вакуум, гелий для твердых веществ, жидкостей и порошков

Области применения:

Микро-РФА спектрометр ATLAS™ X выводит рентгеновское картирование и автоматизацию на новый уровень.

Аппаратное обеспечение:

Возбуждение: Размер пятна ≥ 5 мкм с поликапиллярной оптикой Рентгеновская трубка с Rh-мишенью 50 кВ/50 Вт/1 мА (поставляются и другие типы) Диск светофильтров, вмещающий до 8 фильтров, установлен перед фокусирующей оптикой В качестве опции использование двух рентгеновских трубок для разных диапазонов элементов, мишеней и размеров пятна Наименьшее пятно Самая высокая температура трубки Наибольшее количество фильтров
Детекторы: От 50 до 150 мм2 для увеличения скорости и уменьшения времени получения данных Разрешение ≤ 130—145 эВ Самая большая активная область
Предметные столики: Моторизованный по XYZ Скорость до 300 мм/с (Получение карты ≤ 1 мс/пиксель) Точность менее 1 мкм Самый быстрый столик Самая высокая точность
Виды образцов и условия: Воздух, вакуум и гелий Готовность вакуума менее чем за одну минуту Твердые вещества, жидкости, порошки и частицы Самое быстрое опорожнение
Камера и геометрия: Размер камеры 508x457x254 мм Перемещение для картирования до 250x200 мм (Общее перемещение до 320x320x120 мм) Нисходящая перпендикулярная геометрия от трубки до образца Самый большой объем Самый большой ход перемещения

Получение и количественный анализ спектра:

• Сбор данных и автоматическое определение пиков одним щелчком
• Настраиваемая идентификация, маркировка, обработка и количественный анализ
• Прокручиваемая периодическая таблица
• Перетаскивание слоев
• Автоматическая корректировка наложения, удаление суммы/пиков вылета, корректировка фона и линейная/нелинейная деконволюция
• Фундаментальные параметры (FP) и количественный подбор
• База данных для классификации материалов

Формирование изображений:

• Многоточечный автоматизированный анализ непосредственно по изображению
• Морфологическая обработка для быстрого определения размера элементов
• Сшивка и монтаж изображений
• Сегментация и разделение элементов

Картирование и строчное сканирование:

• Одновременное определение 35 элементов
• Максимальное разрешение карты 4096 x 4096 (разрешение строчного сканирования 4096)
• Сохранение спектральных данных для каждого пикселя
• Отображение спектра в реальном времени при сборе данных
• Получение одной или нескольких карт по изображению; обзорная или точечная камера
• Сшивка и монтаж карт
• Извлечение спектров из карты: в точке, по области и свободное выделение
• Создание строчного сканирования по карте
• Обзор интенсивности и концентрации с помощью мыши
• Анализ фаз
• Мультикомпозиционное отображение карты элементов и диапазонов соединений
• Наложение строчных сканирований на изображение

Специализация и автоматизация:

• Анализ многослойных тонких пленок и покрытий, до 10 слоев
• Анализ стекла по ASTM E2926-13
• Отслеживание, сохранение и воспроизведение всех позиций столика и изображений

Возможности:

Многоточечный сбор данных	Строчное сканирование	Роботизированный столик	Анализ частиц и морфология	Калькулятор компонентов
Мультикомпозиционное картирование	Анализ фаз	Получение спектров	Тонкая пленка	Сшивка и монтаж
Просмотр интенсивностей/ концентраций	Пользовательские отчеты и шаблоны	3D	Максимальный пиксельный спектр	Сегментация

По запросу разрабатывается заказное ПО

Тип образцов	Твердые вещества, жидкости, частицы, порошки
Размер камеры образцов	37x26x14 дюймов (950x650x365 мм)
Среды измерения	Воздух, вакуум, He
Источник возбуждения Первичный Вторичный	50 Вт/ 50 кВ / 1 мА 4—12 Вт / 40—60 кВ / 0,4—1 мА
Параметры возбуждения Материалы мишени Трубка Размер пятна Фильтры	Поликапиллярная или апертурная коллимация Rh (доступны другие варианты) 50 кВ, 50 Вт, 1 мА (2-я трубка как опция) ≥ 5—1000 мкм До 8 шт.
Геометрия	Нисходящий луч (перпендикулярный)
Детектор(ы) Разрешение Активная область	SDD (Si-Pin по запросу) 130—145 эВ 50—150 мм2
Предметный столик	Моторизованный X, Y, Z (поставляется) Возможна поставка диапазонов до 600x300 мм
Перемещение образца Суммарное Картирование Скорость сканирования карты Скорость образца	600x300x150 мм 400x300 мм 1-3 мс/пиксель до 300 мм/секунду
Просмотр образца	Три камеры для позиционирования и анализа образца
Управление прибором	ПК; Windows 10 Полное управление параметрами, фильтрами, камерами, оптическими микроскопами, подсветкой и позиционированием образца, а также средами измерения
Питание	100—240 В, 50/60 Гц
Сертификация	CE, RoHS, излучение
Диапазон элементов	Na-U
Габаритные размеры	67x31 x64 дюймов (1690x787x1630 мм)
Качество и безопасность	Сертификация ЕС, RoHS, излучение < 1 мкЗв/ч