Nano TEM 50 Система быстрого автоматического анализа изображений микрочастиц

Высокое разрешение

• Оптическая система обеспечивает разрешение 1,0 нм при 50 кВ.
• Минимальное искажение изображения (менее 1‰).

Высокоскоростная визуализация

• STEM-детектор со скоростью 100 млн пикселей в секунду.

Автоматизированная работа с образцами

• Возможность загрузки до 5 образцов одновременно.
• Интеллектуальная система управления процессами.

Надежность и стабильность

• Возможность непрерывной работы в режиме 24/7.

Программный комплекс для управления

• Интеллектуальная оптимизация качества изображения.
• Автоматическое отслеживание фокуса.
• Оптическая панорамная навигация.
• Автоматизированное сканирование крупных областей образца.

Дополнительные функции

Продвинутый количественный анализ частиц: Встроенная система автоматической загрузки образцов и интеллектуального управления процессом тестирования.

AI Server – обработка и анализ изображений

Поддержка широкого поля зрения (100 мкм при 25 нм). Интеллектуальная система анализа, распознавания и измерения параметров частиц с применением технологий искусственного интеллекта.

Технология быстрого переключения режимов

Электронно-оптическая система обеспечивает гибкое переключение между режимами крупномасштабной съемки и съемки с высоким разрешением. Высокоточная идентификация микрочастиц и их детальное позиционирование. Мгновенный переход между режимами работы с увеличенным полем зрения и сверхвысоким разрешением.

Программный комплекс для управления

• Интеллектуальная оптимизация качества изображения.
• Автоматическое отслеживание фокуса.
• Оптическая панорамная навигация.
• Автоматизированное сканирование крупных областей образца.