Nano TEM 200 Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 200 кВ

Просвечивающие микроскопы

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM — Transmission Electron Microscope) предназначен для получения изображения с использованием проходящего через образец пучка электронов. Этот метод позволяет исследовать структуру материалов на наноуровне, что востребовано в материаловедении, биологии, нанотехнологиях и полупроводниковой промышленности.

Принцип работы ПЭМ

При взаимодействии электронов с образцом формируется изображение, которое фиксируется детектором. Этот метод позволяет изучать кристаллическую структуру, дефекты, границы зерен и фазовые переходы.

• У скоряющее напряжение: 200 кВ (настройка на 80 кВ и 200 кВ).
• Полностью цифровая система с возможностью оснащения режимом STEM, держателем для криообразцов, системой автоматизированной томографии и EDS-спектрометром.
• Источник электронов: термополевой катод Шоттки с током зонда ≥ 1,5 нА/1 нм и максимальным током пучка ≥ 50 нА при 200 кВ.
• Линейное разрешение: 0,23 нм, предельное – 0,2 нм.
• Увеличение: от 20x до 1 500 000x.
• Вакуум: в электронной пушке < 1x10⁻⁶ Па, в колонне < 5x10⁻⁵ Па.
• Полностью эксцентричный гониометр с 5-осевым моторизованным столиком.
• CMOS-камера EMSIS XAROSA 5120x3840, расположенная снизу.
• Держатель для образцов с двойным наклоном CompuStage.
• Обучение эксплуатации и практическое обучение на месте (3 дня).