Анализатор частиц по размерам и элементам SELPA

SELPA (Scanning ELectron Microscope for Particle Analysis) – это автоматизированный анализатор частиц большой площади, разработанный на основе SEM (растрового электронного микроскопа). В промышленном применении его можно использовать для анализа и классификации частиц по их размерам и элементам.

Сила SELPA в возможности картирования большой площади. Также возможно анализировать частицы размером менее 2,5 мкм.

SELPA – это автоматизированная система SEM/EDS, которая может получать результаты распределения элементов в выбранной области.

Области применения:

• Исследование чистоты поверхности
• Исследование на включение стали
• Анализ GSR (Gun Shot Residue) остаток от разряда патрона
• Анализ минералов, асбеста
• Анализ частиц

Электронная пушка	Картридж с предварительно центрированной нитью
Источник электронов	Вольфрамовый катод (W)
Диапазон увеличений х60	х5000
Ускоряющее напряжение	Регулируемое от 1 до 30 кВ, с шагом 1кВ
Вакуумные режимы	Переменное давление (10Па, 20Па, 40Па, 60Па)
Детектор	BSED(DP)
Столик	X:100 мм, Y:100 мм, Z от 12 до 40 мм, с полной моторизацией
Размеры камеры	200 мм в диаметре
Максимальный размер образца	100 мм в диаметре
Максимальная высота образца	28 мм
Графический интерфейс пользователя	NanoStation 4.1
Автоматическая настройка изображения	Fвтофокус, автоконтраст, режим реального времени
Вакуумная система	Турбо насос, роторный насос, управляющая консоль
ЭДС	Комбинированное использование 2х детекторов Oxford/Bruker