Гарантия от производителя
TMS-2400 MicroView+ – это универсальная рабочая станция для применения на производственных участках контроля топографии поверхности.
Благодаря модульности позволяет использовать индивидуальные конфигурации и конфигурации для конкретных задач. Micro.View + обеспечивает наиболее подробный анализ шероховатости поверхности, текстуры и топографии микроструктуры с высоким разрешением. 5 Мп камера обеспечивает невероятно подробные визуализации данных.
Оптический профилометр TMS-2400 предназначен для характеризации топографии структур, микроструктур поверхности бесконтактным методом с возможностью расширенного анализа на производственных участках. Позволяет проводить измерения на любых поверхностях с различной отражающей способностью.
Контроль параметров: формы, волнистости, плоскостности, высоты ступенек, параллельности, измерение линейных размеров, параметров шероховатости, толщины плёнок. С технологией экологической компенсации ETC позволяет использовать даже в шумных и сложных производственных условиях, обеспечивая надежные и точные измерения.
Благодаря модульности позволяет использовать индивидуальные конфигурации и конфигурации для конкретных задач. Micro.View + обеспечивает наиболее подробный анализ шероховатости поверхности, текстуры и топографии микроструктуры с высоким разрешением. 5 Мп камера обеспечивает невероятно подробные визуализации данных.
Оптический профилометр TMS-2400 предназначен для характеризации топографии структур, микроструктур поверхности бесконтактным методом с возможностью расширенного анализа на производственных участках. Позволяет проводить измерения на любых поверхностях с различной отражающей способностью.
Контроль параметров: формы, волнистости, плоскостности, высоты ступенек, параллельности, измерение линейных размеров, параметров шероховатости, толщины плёнок. С технологией экологической компенсации ETC позволяет использовать даже в шумных и сложных производственных условиях, обеспечивая надежные и точные измерения.
Области применения:
- Гладкие поверхности
- Машиностроение
- Материаловедение
- Энергетика
- Криминалистика
- Контроль лазерной гравировки
- Микроэлектроника
- Микромеханика
- Оптика
- Полупроводники
- Потребительская электроника
- Фотовольтика
- Дисплеи
- Электроника/микроэлектроника
- Прецизионное машиностроение
- Биология и медицина
| Принцип измерения | Сканирующая интерферометрия белого света (с объективами Майкельсона / Мирау) |
| Источник света | Долговечный диод, 525 нм |
| Диапазон измерения (X*Y*Z), мм | 200*200*100 |
| Разрешение цифровой камеры , мегапикселей | 5,0 |
| Вертикальное разрешение | не более 1нм |
| Пространственное разрешение столика позиционирования образцов | не более 1 нм |
| Расстояние между точками, мкм *- зависит от типа объектива | 0,06 – 2,34* |
| Габариты сенсорной головки, мм | 270*440*182 |
| Габариты штатива, мм | 980*548*372 |
| Общий вес системы, кг | 72,8 |
| Формат данных топографии | SUR, ASCII |
| Формат данных экспорта | qs-STAT, PDF, BMP, PNG, TIFF, GIF |
Большой выбор оборудования
Быстрая качественная доставка
Индивидуальный подход