Оптический профилометр TopMap MicroView TMS-1400

TMS-1400 MicroView - это простой в использовании и компактный оптический профилометр.

Сочетающий в себе исключительную производительность и мощное метрологическое программное обеспечение с дружелюбным интерфейсом. Диапазон измерения по оси Z = 100мм, разрешение на всем диапазоне менее 0,5нм, вне зависимости от объектива с технологией непрерывного сканирования CST.

Оптический профилометр TMS-1400 предназначен для характеризации топографии структур, микроструктур поверхности бесконтактным методом.

Позволяет проводить измерения на любых поверхностях с различной отражающей способностью. Контроль параметров: формы, волнистости, плоскостности, высоты ступенек, параллельности, измерение линейных размеров, параметров шероховатости, толщины плёнок.

С технологией экологической компенсации ETC позволяет использовать даже в шумных и сложных производственных условиях, обеспечивая надежные и точные измерения.

Области применения:

• Гладкие поверхности
• Машиностроение
• Материаловедение
• Энергетика
• Криминалистика
• Контроль лазерной гравировки
• Микроэлектроника
• Микромеханика
• Оптика
• Полупроводники
• Потребительская электроника
• Фотовольтика
• Дисплеи
• Электроника/микроэлектроника
• Прецизионное машиностроение
• Биология и медицина

Принцип измерения	Сканирующая интерферометрия белого света (с объективами Майкельсона / Мирау)
Источник света	Долговечный диод, 525 нм
Диапазон измерения (X*Y*Z), мм	75*75*100
Разрешение цифровой камеры , мегапикселей	1,3
Максимальное количество точек за одно измерение, шт	1 352 000
Вертикальное разрешение	не более 1нм
Пространственное разрешение столика позиционирования образцов	не более 1 нм
Расстояние между точками, мкм *- зависит от типа объектива	0,06 – 2,34*
Габариты сенсорной головки, мм	270*440*182
Габариты штатива, мм	520*575*540
Общий вес системы, кг	39
Формат данных топографии	SUR, ASCII
Формат данных экспорта	qs-STAT, PDF, BMP, PNG, TIFF, GIF