Гарантия от производителя
Тестирование формы трехмерной поверхности онлайн
- Двойная защита от столкновений
- Четыре варианта электрического наклона
- Ход регулировки направления Z 30 мм
- Программный пакет вторичной разработки
Предоставляет программный пакет для удобства выполнения вторичной разработки клиентом. Пользователь самостоятельно разрабатывает ПО для управления автоматическим измерением измерительной головки и участвует в выполнении всего процесса от измерения до анализа
ПО zstop, аппаратный электронный датчик, и подача внешнего электронного сигнала для предотвращения столкновений.
Обеспечивает электрическую регулировку наклона тангажа и рыскания в двух направлениях и четырёх вариантах, что значительно снижает степень сложности изготовления погрузочной платформы клиента.
Для удовлетворения потребностей клиента в переключении тестируемых образцов разной высоты без дополнительного смещения по оси Z, предоставляемого клиентом.
Функции
- Функция измерения: возможность высокоточного сканирования в направлении Z поверхности образца и получения 3D-изображения.
- Функция анализа: возможность получения таких 2D и 3D данных, как шероховатость качества поверхности, контурные размеры на микро-наноуровне.
- Функция программирования: поддержка предварительно настроенных этапов обработки и анализа данных, завершение всего процесса от измерения до анализа в один клик.
- Анализ партии: шаблоны обработки и анализа данных можно настроить в соответствии с требуемыми параметрами, осуществление анализа партии для одного и того же типа данных параметров в один клик.
Область применения
Модель прибора | IntoM OPX100 | |||
Источник света | Белый свет LED | |||
Система изображения | 1024X1024 | |||
Интерференционный объектив | 10X,( 20X,50X) | |||
Стандартное поле обзора | 0.98X0.98мм 0.98X0.98мм | |||
Вышка объектива | Одно отверстие | |||
Габариты | 230X200ммX380мм | |||
Настройка уровня | ±2° электрический | |||
Ход направления Z | 30мм | |||
Диапазон сканирования направления Z | 10мм (в зависимости от конкретного объектива) | |||
Разрешение направления Z | 0.1нм | |||
Измеримый коэффициент отражения образца | 0.05%~100% | |||
Повторяемость RMS шероховатости | 0.01нм | |||
Измерение шага | Точность | 0.5% | ||
Повторяемость | 0.1% 1σ |
Большой выбор оборудования
Быстрая качественная доставка
Индивидуальный подход